• 首頁    鍍層測厚儀    iEDX-150T鍍層測厚儀
    150T
    創建時間:2018-05-21 17:00
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    iEDX-150T鍍層測厚儀

    ISP iEDX-150T鍍層測厚儀;
    采用非真空樣品腔;
    專業用于PCB電鍍鍍層分析、PCB鍍層厚度測量及金屬電鍍鍍層分析;
    采用多種光譜擬合分析處理技術;
    可增加合金成份分析及RoHS功能。

    善時儀器

    手  機: 18589082047

    電     話 :  0755-23347785

    傳  真: 0755-27205042

    郵    箱: sales@sense.cc

    地  址: 深圳市寶安區新橋街道沙企社區中心路18號高盛大廈12樓

     

    應用領域

     iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域;

     

    技術指標

    多鍍層分析,1~5層;

    測試精度:0.001 μm;

    元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U);

    測量時間:10~30秒;

    SDD探測器,能量分辨率為125±5eV;

    探測器Be窗0.5mil(12.7μm);

    微焦X射線管50kV/1mA,鉬,銠靶(高配微焦鉬靶);

    6個準直器及多個濾光片自動切換;

     XYZ三維移動平臺,MAX荷載為5公斤;

     高清CCD攝像頭(200萬像素),準確監控位置;

    多變量非線性去卷積曲線擬合;

    高性能FP/MLSQ分析;

    儀器尺寸:618×525×490mm;

    樣品臺尺寸:250×220mm;

    樣品臺移動范圍:前后左右各80mm、高度90mm。

     

    圖譜界面

    軟件支持無標樣分析;

    寬大分析平臺和樣品腔;

    集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面;

    采用多種光譜擬合分析處理技術;

    鍍層測厚分析精度可達到0.001μm。

     

    分析報告結果

    直接打印分析報告;
    報告可轉換為PDF,EXCEL格式。

     

    樣品分析圖譜:

     

    150T樣品分析圖譜

     

    測試結果界面:

     

    150T測試結果

     

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