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    1. 簡述什么是掃描電子顯微鏡

        掃描電子顯微鏡(SEM)其實就是一種介于光學顯微鏡與透射電子顯微鏡之間的一種觀察手法。它運用聚焦的極窄的高能電子束來掃描樣品,經過物資和光束間的互相作用,來激起種種物理信息,對這些信息采集、縮小、再成像是為了達到對物資微觀形貌表征的目的。新款的掃描電子顯微鏡的分辨率能夠達到一納米;縮小倍數能夠達到三十萬倍及以上不間斷進行調節;而且視線大,景深大,成像立體效果佳。除此之外,掃描電子顯微鏡以及其余分析儀器相互結合,能夠做到觀察微觀形貌的同一時間進行物質微區成份分析。掃描電子顯微鏡在石墨、巖土、納米材料以及陶瓷等的研發上有普遍使用。所以掃描電子顯微鏡在科學研究行業擁有極大的功用。

       

        掃描電子顯微鏡是一種應用于高分辨率微區形貌分析的大型周詳儀器。擁有分辨率極高、景深大、立體感極強、成像直觀、擴大倍數范圍寬還有待測樣品能夠在三維空間內舉行歪斜與扭轉等特征。除此之外還擁有能夠測樣品類別多樣,基本上不毀傷以及傳染原始樣品還有能夠同一時間取得結構、成份、形貌以及結晶學信息等好處?,F在,掃描電子顯微鏡已經被普遍使用于各個領域,比方說:生命科學領域、物理學領域、化學領域、法律領域、地球科學領域、材料學領域還有工業制造等領域的微觀研究,僅僅在地球科學方面就包含了礦床學、沉積學、結晶學、地球化學、礦物學、工程地質微體古生物、天文地質、寶石學、油氣地質以及構造地質等。

       

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      創建時間:2021-02-05 10:08
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